小物件受控跌落試驗(yàn)機(jī)旨在評估產(chǎn)品在實(shí)際使用時客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對產(chǎn)品性能的影響，適用于：手機(jī) 行動電話、PDA、電話機(jī)、電子辭典、CD、MP3、電池、適配器等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)及加速度跌落測試；
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- 型號：HK-DLD-1800
- 時間：2025-04-08
平板電腦受控跌落試驗(yàn)機(jī)旨在評估產(chǎn)品在實(shí)際使用時客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對產(chǎn)品性能的影響，適用于：行動電話、PDA、電話機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)及加速度跌落測試；
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- 型號：HK-DLD-ZY1.5
- 時間：2025-04-08
加速度受控跌落試驗(yàn)機(jī)機(jī)型為目前手機(jī)制造業(yè)最為廣泛使用之機(jī)型：諾基亞、華為技術(shù)、中興通訊、SHARP通信、三星科健、TCL、步步高、索尼電子等… [適用標(biāo)準(zhǔn)]：JIS C 0044 IEC 60068-2-32
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- 型號：HK-DLD-1800A
- 時間：2025-04-08
全封閉受控跌落試驗(yàn)機(jī)評估產(chǎn)品在實(shí)際使用時客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對產(chǎn)品性能的影響，適用于：手機(jī) 行動電話、PDA、電話機(jī)、電子辭典、CD、MP3、電池、適配器等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)及加速度跌落測試；
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- 型號：
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手機(jī)定向跌落試驗(yàn)機(jī)旨在評估產(chǎn)品在實(shí)際使用時客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對產(chǎn)品性能的影響，適用于：行動電話、PDA、電話機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品作原姿態(tài)及加速度跌落測試；
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- 型號：HK-DLD-SK
- 時間：2025-04-08
跌落試驗(yàn)機(jī)此款機(jī)型為目前手機(jī)制造業(yè)最為廣泛使用之機(jī)型：諾基亞、華為技術(shù)、中興通訊、SHARP通信、三星科健、TCL、步步高、德賽電子等… 定向跌落試驗(yàn)機(jī)適用標(biāo)準(zhǔn)：JIS C 0044 IEC 60068-2-32
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- 型號：HK-DLD-SK
- 時間：2025-04-08